幹式空心電抗器損壞原因分析及防治措施

幹式空心電抗器的損壞原因首主有部分溫升過高、匝間絕緣擊穿等。這些原因終究引起匝間短路形成閉合回路，在電磁感應作用下産生很大的環流，使鋁線溫度敏捷升高並熔化（形成較大的熔洞或部分導線熔化）。若故障點在包封中，則會敏捷産生火焰並向氣道兩側噴出，緻使缺點擴大使電抗器燒損。

材料質量及工藝控制原因

電抗器設計時，盡或許使導(dǎo)線與絕緣材料膨脹系數相近，防止産(chǎn)生絕緣開裂。一般選用鋁線而不選用銅線，是因爲銅線膨脹系數與絕緣材料的相差較大，易開裂。空心電抗器選用鋁線進行繞制，鋁線或許存在起皮、夾渣、毛刺等缺點，或在繞制過程中引起鋁線損傷；這些有或許引起運轉中導(dǎo)線斷線、放電損傷匝間絕緣。

目前空心電(diàn)抗繞制基本選用濕法繞制，即電(diàn)磁線及玻璃纖維等絕緣填充材料經過未凝膠固化的環氧樹脂滋潤後一起繞制，完成後置入高溫烘爐進行固化。這種方法對環境的溫度、濕度要求較高，繞制中操控不嚴容易吸潮及帶(dài)入雜質。

若鋁線焊接質量不良，可引起包封部分溫度過(guò)高或斷(duàn)線等。

因匝間絕緣強度足以接受2倍的過電(diàn)壓，因而電(diàn)抗器投切過程中産(chǎn)生的過電(diàn)壓不是故障的原因。

運轉中會存在電抗器在高於(yú)額外運轉電壓下運轉的情況，此時若規劃時導線的電流密度選的過大，将會使電抗器各包封溫升升高，引起整體發熱；若存在反常熱門，将或許導緻匝間絕緣損壞直至電抗器損壞。因而，制造廠應合理挑選規劃裕度，防止在體系電壓較高下包封出現反常溫升而損傷絕緣情況産(chǎn)生。

斷線的原因

斷線的部位首要有包封外部引出線斷線與包封内部斷線
。包封外部斷線的原因首要有運送、安裝過程中導(dǎo)線被碰損或導(dǎo)線焊接質量不良引起。包封内部斷線的原因或許爲導(dǎo)線夾渣、起皮，在運轉中部分過熱而熔斷；或導(dǎo)線匝間絕緣不良，在運轉中匝間放電(diàn)而使導(dǎo)線受損直至斷線。

因電抗器爲多根導線並(bìng)繞結構
，斷線後電抗器各包封導線中的電流将重新分配。依據制造廠的核算結果,斷線1根導線後，剩下導線中某根導線電流值将變(biàn)爲正常時的1.2倍，因發熱量與電流的平方成正比，則發熱量變(biàn)爲原來的1.44倍；可見，斷線後個别包封将出現溫升反常升高。包封溫升反常升高後，将使匝間絕緣敏捷劣化，引發電抗損壞。

結論

1）從制造廠角度考慮，電抗器制造過程中應加強工藝操控，防止導線夾渣、毛刺、焊接質量不良等産生，合理規劃電抗器溫升水平，從根本上根絕電抗器損壞産生。

2）在運送及安裝過程中，應特别關注各包封引出線及調匝環（若有），防止誤碰引起導線或絕緣損傷。

3）因爲幹式空心電抗器爲免維護設備，預防性實驗規程中對幹式電抗器的實驗項目爲
：阻抗測量（必要時）、紅外測溫（1年或必要時）。目前,已要求定期展開幹抗紅外測溫，但僅能測驗到幹抗外部包封溫度，很難發現幹抗内部包封的溫度反常情況。

4）目前，已要求定期展開直流電阻測驗，判别依據首要依據所測電阻值與出廠值的誤差核算並聯導線中是否存在斷線及斷線的根數。結合制造廠的核算, 一般導線斷線1根直流電阻誤差接近1%；並結合縱向、橫向比較進行判别，以進步判别的準確性。實踐證明，可有效發現斷線情況。

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