幹式空心電抗器損壞原因分析及防治措施

幹式空心電抗器的損壞原因主要有部分溫升過高、匝間絕緣擊穿等
。這些原因最終引起匝間短路構成閉合回路，在電磁感應效果下産生很大的環流
，使鋁線溫度敏捷升高並熔化（構成較大的熔洞或部分導線熔化）。若毛病點在包封中，則會敏捷産生火焰並向氣道兩邊噴出，緻使缺點擴大使電抗器燒損。

材料質量及工藝控制原因

電抗器規劃時
，盡或許使導(dǎo)線與絕緣資料膨脹系數相近，防止産(chǎn)生絕緣開裂。通常選用鋁線而不選用銅線，是因爲銅線膨脹系數與絕緣資料的相差較大，易開裂。空心電抗器選用鋁線進行繞制，鋁線或許存在起皮、夾渣、毛刺等缺點，或在繞制過程中引起鋁線損害；這些有或許引起運轉中導(dǎo)線斷線、放電損害匝間絕緣。

目前空心電抗繞制基本選用濕法繞制，即電磁線及玻璃纖維等絕緣填充資料通過未凝膠固化的環氧樹脂浸潤後一同繞制，完成後置入高溫烘爐進行固化。這種辦(bàn)法對環境的溫度、濕度要求較高，繞制中控制不嚴簡單吸潮及帶(dài)入雜質。

若鋁線焊接質量不良，可引起包封部分溫度過(guò)高或斷(duàn)線等。

設計裕度

因匝間絕緣強度足以接受2倍的過電(diàn)壓，因此電(diàn)抗器投切過程中産(chǎn)生的過電(diàn)壓不是毛病的原因。

運轉中會存在電抗器在高於(yú)額定運轉電壓下運轉的狀況，此時若規劃時導線的電流密度選的過大，将會使電抗器各包封溫升升高，引起全體發熱；若存在反常熱點，将或許導緻匝間絕緣損壞直至電抗器損壞。因此，制作廠應合理挑選規劃裕度，防止在體系電壓較高低包封呈現反常溫升而損害絕緣狀況産(chǎn)生。

斷線的原因

斷線的部位主要有包封外部引出線斷線與包封内部斷線。包封外部斷線的原因主要有運送、裝置過程中導(dǎo)線被碰損或導(dǎo)線焊接質量不良引起。包封内部斷線的原因或許爲導(dǎo)線夾渣、起皮，在運轉中部分過熱而熔斷；或導(dǎo)線匝間絕緣不良
，在運轉中匝間放電(diàn)而使導(dǎo)線受損直至斷線
。

因電抗器爲多根導線並(bìng)繞結構，斷線後電抗器各包封導線中的電流将重新分配。根據制作廠的核算結果,斷線1根導線後，剩下導線中某根導線電流值将變(biàn)爲正常時的1.2倍，因發熱量與電流的平方成正比
，則發熱量變(biàn)爲本來的1.44倍；可見，斷線後個别包封将呈現溫升反常升高。包封溫升反常升高後，将使匝間絕緣敏捷劣化，引發電抗損壞。

結論

1）從制作廠(chǎng)角度考慮，電抗器制作過程中應加強工藝控制，防止導線夾渣、毛刺、焊接質量不良等産(chǎn)生，合理規劃電抗器溫升水平，從根本上杜絕電抗器損壞産(chǎn)生。

2）在運送及裝置過程中，應特别關注各包封引出線及調(diào)匝環（若有），防止誤碰引起導(dǎo)線或絕緣損害。

3）由於(yú)幹式空心電抗器爲免維護設備(bèi)，預防性試驗規程中對幹式電抗器的試驗項目爲：阻抗丈量（必要時）、紅外測溫（1年或必要時）。目前,已要求定時展開幹抗紅外測溫，但僅能測試到幹抗外部包封溫度，很難發現幹抗内部包封的溫度反常狀況。

4）目前，已要求定時展開直流電阻測試，判斷依據主要根據所測電阻值與出廠值的誤差推算並(bìng)聯導線中是否存在斷線及斷線的根數。結合制作廠的核算, 通常導線斷線1根直流電阻誤差接近1%；並(bìng)結合縱向、橫向比較進行判斷，以進步判斷的準確(què)性。實踐證明，可有效發現斷線狀況。

另外，在維護中需求加強電抗器外部引線斷線的查看，發現斷線時應及時補(bǔ)焊；並(bìng)且還需求活躍尋覓其他更有效的電抗狀态檢測手法。

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